Контроль скрытых дефектов
Для выявления дефектов в материалах, изделиях и конструкциях, а также измерения геометрических параметров дефектов используются методы неразрушающего контроля. Они основаны на взаимодействии разнообразных физических полей или веществ с контролируемым объектом. Для выявления трещин и других дефектов используются неразрушающие методы (ГОСТ 18353—79):
- магнитно-порошковый,
- электромагнитный,
- ультразвуковой,
- звуковой,
- течеискания.
По характеру взаимодействия физических полей и веществ с контролируемым объектом и по способам получения информации осуществляется классификация методов каждого из видов неразрушающего контроля.
К средствам дефектоскопического контроля относятся:
- дефектоскопы,
- дефектоскопические материалы,
- вспомогательные приборы,
- приспособления,
- онтрольные образцы и т.д.
Визуально-оптические методы применяется для выявления и измерения поверхностных дефектов. Обнаружению подлежат:
- трещины,
- разрывы,
- деформации,
- раковины,
- коррозионные,
- эрозионные поражения.
Контрастностью, яркостью, освещенностью и угловым размером объекта обусловливается видимость дефектов. Наиболее важным условием видимости является контраст. Контраст определяется свойством дефектов выделяться на окружающем фоне при различных оптических характеристиках дефекта и фона.
Видеть дефекты, размеры которых находятся за пределами разрешающей способности невооруженного глаза, помогают оптические приборы, которые значительно расширяют пределы возможностей глаза. Для визуально-оптического контроля деталей целесообразно применять приборы с кратностью увеличения не более 20—30. Данное требование напрямую связано с тем, что с возрастанием кратности увеличения уменьшаются поле зрения, глубина резкости, производительность и надежность контроля.
Визуально-оптические приборы по своему назначению и конструктивным особенностям делятся на:
- приборы для обнаружения близкорасположенных дефектов с расстояния наилучшего зрения 250 мм и менее. Приборы этой группы — монокулярные и бинокулярные лупы (лупы Польди — ЛП; складные лупы — ЛАЗ; измерительные лупы — ЛИЗ; штативные лупы — ЛГИ, ЛИГИ, ЛПШ и др.) и микроскопы (МИР и др.);
- оптические приборы для обнаружения невидимых дефектов в закрытых полостях конструкций, деталей, отверстий и т.д. Для контроля скрытых поверхностей применяются эндоскопы, перископические дефектоскопы и др.
Целесообразно применять светильники направленного излучения с разрядными лампами или лампами накаливания в условиях недостаточной освещенности контролируемой поверхности.
Последние новости дня в мире:
Предприимчивым людям - заработок: оборудование для автосервиса.